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作者Kaupp, Gerd
SpringerLink (Online service)
書名Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching [electronic resource] : Application to Rough and Natural Surfaces / by Gerd Kaupp
出版項Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006
說明xii, 292 p. : ill., digital ; 24 cm
主題Genomics -- Congresses
Pharmacogenomics -- Congresses
Drug development -- Congresses
Chemistry
Nanotechnology
Physics and Applied Physics in Engineering
Applied Optics, Optoelectronics, Optical Devices
Medical Biochemistry
Physical Chemistry
Life Sciences, general
ISBN/ISSN9783540284727 (electronic bk.)
9783540284055 (paper)
 QRCode
相關連結： 連線到 https://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7 （網址狀態查詢中....）
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